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TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方 / 早川幸治, ロス・タロック著

TOEIC L&R テスト ヨク ワカル ソウゴウ タイサク ト トキカタ

出版者 東京 : 語研
出版年 2019.4
大きさ x, 292p : 挿図 ; 21cm + CD-ROM1枚(12cm)
本文言語 日本語,英語

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 コメント 予約 指定図書
図・1F語学教材コーナー
830.79/H46 3000068882

書誌詳細を非表示

別書名 異なりアクセスタイトル:Focused preparation for the TOEIC L&R test
異なりアクセスタイトル:TOEIC L&Rテストよくわかる総合対策と解き方
一般注記 付属資料: MP3形式の音声データを収録したCD-ROM
著者標目 早川, 幸治 <ハヤカワ, コウジ>
Tulloch, Ross
件 名 BSH:英語
分 類 NDC8:830.79
NDC9:830.79
NDC10:830.79
NDLC:YU37
書誌ID 2000931599
NCID BB28294973
巻冊次 ISBN:9784876153442 ; PRICE:1800円+税

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