ヒョウメン ト ハクマク ブンセキ ギジュツ ノ キソ
出版者 | 東京 : 海文堂 |
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出版年 | 1989.6 |
大きさ | xii, 353p ; 22cm |
本文言語 | 日本語 |
配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 指定図書 |
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図・2F開架閲覧 |
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428.4/68/A | 1000925902 |
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図・2F開架閲覧 |
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428.4/F18 | 2001004884 |
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図・B1F一般図書 |
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428.4/68 | 1000796722 |
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別書名 | 原タイトル:Fundamentals of surface and thin film analysis |
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一般注記 | 文献:各章末 |
著者標目 | Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- 栗山, 一男 <クリヤマ, カズオ> 山本, 康博 <ヤマモト, ヤスヒロ> |
件 名 | BSH:表面(工学) BSH:薄膜 BSH:光学分析 |
分 類 | NDC8:428.4 NDLC:MC141 |
書誌ID | 2000011161 |
NCID | BN03575514 |
巻冊次 | ISBN:4303712000 ; PRICE:5100円 |