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＜図書＞
半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 / ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳
ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ
| 出版者 | 東京 : シーエムシー出版 |
|---|---|
| 出版年 | 2012.5 |
| 大きさ | vii, 583p ; 21cm |
| 本文言語 | 日本語 |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 図・2F開架閲覧 |
|
549.8/SC7 | 3000064193 |
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書誌詳細を非表示
| 別書名 | 原タイトル:Semiconductor material and device characterization 異なりアクセスタイトル:半導体材料デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 |
|---|---|
| 一般注記 | 文献: 章末 原著第3版の翻訳 |
| 著者標目 | Schroder, Dieter K. 嶋田, 恭博 <シマダ, ヤスヒロ> |
| 件 名 | BSH:半導体 |
| 分 類 | NDC8:549.8 NDC9:549.8 |
| 書誌ID | 2000912305 |
| NCID | BB09175332 |
| 巻冊次 | ISBN:9784781304793 ; PRICE:25000円+税 |
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