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<図書>

半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 / ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳

ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ

出版者 東京 : シーエムシー出版
出版年 2012.5
大きさ vii, 583p ; 21cm
本文言語 日本語

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配架場所 巻 次 請求記号 資料番号 状 態 コメント 予約 指定図書
図・2F開架閲覧
549.8/SC7 3000064193

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別書名 原タイトル:Semiconductor material and device characterization
異なりアクセスタイトル:半導体材料デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際
一般注記 文献: 章末
原著第3版の翻訳
著者標目 Schroder, Dieter K.
嶋田, 恭博 <シマダ, ヤスヒロ>
件 名 BSH:半導体
分 類 NDC8:549.8
NDC9:549.8
書誌ID 2000912305
NCID BB09175332
巻冊次 ISBN:9784781304793 ; PRICE:25000円+税

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